金相顯微鏡（或者叫工業(yè)檢測顯微鏡）主要集中在材料科學(xué)領(lǐng)域，?特別是金屬材料的研究。?通過金相顯微鏡，?可觀察（金相）材料的顯微組織、低倍組織和斷口組織，反映材料的相和組織組成物、晶粒（亦包括可能存在的亞晶）、非金屬夾雜物乃至某些晶體缺陷（例如位錯(cuò)）的數(shù)量、形貌、大小、分布、取向、空間排布狀態(tài)等。可以廣泛的應(yīng)用于工廠、實(shí)驗(yàn)室、冶金領(lǐng)域?qū)Σ牧系姆治龊丸b定，也可應(yīng)用于醫(yī)療衛(wèi)生機(jī)構(gòu)、實(shí)驗(yàn)室、研究所、高等學(xué)校教學(xué)和研究；是生物學(xué)、金屬學(xué)、礦物學(xué)、 精密工程學(xué)、電子學(xué)等研究的理想儀器。

金相顯微鏡又分為正置金相顯微鏡和倒置金相顯微鏡。

倒置金相顯微鏡由于試樣的觀察面倒置不受高度限制，在制備試樣時(shí)只要一個(gè)觀察面平整。因此工廠實(shí)驗(yàn)室，科研機(jī)構(gòu)院校教學(xué)普遍選用。其他行業(yè)比如電子產(chǎn)品、薄膜、鍍層采用冷鑲嵌材料做成試樣后直接倒置于工作臺(tái)上，由于材料透明也能方便地進(jìn)行觀察。?

正置金相顯微鏡具有和倒置金相顯微鏡同樣的基本功能，除了對(duì)20-30mm高度的金屬試樣作分析鑒定外，由于符合人的日常習(xí)慣，因此更廣泛的應(yīng)用于透明，半透明或不透明物質(zhì)。大于3?微米小于20微米觀察目標(biāo)，比如金屬陶瓷、電子芯片、印刷電路、LCD基板、薄膜、纖維、顆粒狀物體、鍍層等材料表面的結(jié)構(gòu)、痕跡，都能有很好的成像效果。

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